用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的解析度 - .::訊技科技股份有限公司::.

最新公告：

繁體中文|English|全站搜索

欄目列表
FRED
virtualLab
Macleod
OptiWave
GLAD
OCAD
Litestar 4D
EastWave
JCMSuite
LASCAD
最新發佈
F-Theta掃描透鏡的性能評
基於橢圓偏振法的光學
SiO2膜層的可變角橢圓偏
傍軸假設工具
光學系統的三維視覺化
3D 系統視覺化
設定檔編輯工具：速度
精確的物理和數值控制
通用探測器
非球面透鏡後焦點研究

當前位置: 首頁 > 服務項目 > 案例分析 > virtualLab >

用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的解析度

時間:2021-02-03 14:56來源:未知作者: infotek點擊:次列印

用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的解析度
摘要

我們通常可以遵循 1896 年 John William

Strutt 提出的的“瑞利判據”理論來表徵顯微

鏡的解析度。該理論定義了當一個艾裡斑的中

心與另一個艾裡斑的第一個最小值重疊時，它

們就可以被分辨。在此示例中，我們遵循

Rayleigh的理論，並檢查了具有不同數值孔徑

（NA）值的顯微鏡物鏡的解析度。

建模任務

真實物鏡評估

通過 Debye-Wolf 積分評估理想鏡頭

走進 VirtualLab Fusion

VirtualLab Fusion 工作流程

從 ZemaxOpticStudio®導入鏡頭系統

−從 Zemax 導入光學系統[用例]

分析真實鏡頭系統的成像性能

−分析高 NA 物鏡的聚焦[用例]

使用 Debye-Wolf 積分作為參考

− Debey-Wolf 積分計算器[用例]

VirtualLab Fusion 技術

關於我們公司介绍專家團隊人才招聘訊技風采員工專區	服務項目產品銷售課程中心專業書籍項目開發技術諮詢
		聯繫方式地址：新北市永和區中正路746號9樓之5 電話：+886-2-3233-2748 傳真：+886-2-3322-9865 課程：course@infotek.com.tw 業務：sales@infotek.com.tw 技術：support@infotek.com.tw	官方微信

Copyright © 2014-2016 訊技科技股份有限公司, All Rights Reserved.