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受激發射損耗(STED)顯微鏡原理

時間:2024-03-28 16:53來源:未知作者: infotek點擊:次列印

摘要

任務說明

多重光源

螺旋相位板

探測器外掛程式

參數運行

為了實現焦點區域的z-掃描，可以執行參數運行。使用此工具，使用者可以輕鬆改變整個光學系統的單個參數或一組參數。有關詳細資訊，請參閱：

Usage of the Parameter Run Document

非序列建模

將通道配置模式切換設置為Manual Configuration後，使用者可以為系統中的每個表面指定為模擬打開哪些通道。運行模擬時，將對活動光路進行初步分析（通過所謂的Light Path Finder）。然後引擎將沿著這些光路將場追蹤到系統中存在的探測器。

Channel Setting for Non-Sequential Tracing

總結 – 組件…

系統預覽

發射&損耗雷射

光在焦點區域中的傳播表明，來自損耗雷射的光會產生環形光斑，其中中心孔徑小於發射雷射的焦斑。由於兩個光束在目標上的螢光過程中競爭，這導致信號雷射的有效光束尺寸更小。

3D STED 輪廓

受激發射損耗效應

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