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用於光學檢測的斐索干涉儀
時間:2024-05-28 16:32來源:未知作者: infotek點擊:列印

摘要
 


 


 

       斐索干涉儀是工業上常見的光學計量設備,通常用於高精度測試光學表面的品質。在VirtualLab Fusion中通道配置的説明下,我們建立了一個Fizeau干涉儀,並將其用於測試不同的光學表面,例如圓柱形和球形表面。結果表明,表面輪廓對干涉條紋的產生是敏感的。


 
 
建模任務



 




測試表面
 

 




非序列追跡
 


 




通用探測器和探測器附加組件
 


 




總結-組件…

 

 

 






觀測下的傾斜平面
 

 




被觀測圓柱面


 




被觀測球面

 

 


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