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高NA顯微鏡系統的離軸成像分析 |
| 時間:2025-08-20 14:29來源:未知作者: infotek點擊:次列印 |
摘要
成像系統的離軸PSF經常受到由應用的光學部件（例如顯微鏡系統）引入的像差的影響。因此，焦點並不像理想預期的那樣對偏移完全不變。
VirtualLab Fusion提供了一種快速方便的方法，可以使用高NA顯微鏡檢查光傳播和離軸成像的PSF。該案例演示了具有不同橫向偏移距離的離軸物點的成像，來檢查像差的影響。
建模任務
建模技術的單平臺互通性
光在系統中傳播時會遇到不同的元件並與之相互作用。對於系統的這些元件中的每一個，都需要在精度和速度之間提供良好折衷的合適模型：
連接建模技術：自由空間傳播
連接建模技術：物鏡
透鏡系統元件
連接建模技術：管狀透鏡
連接建模技術：探測器
探測器的自動橫向定位
探測器的自動縱向定位
系統概述
具有橫向位移的焦平面上的輻照度
深入技術：附件探測量
對於這個案例，我們只測量焦斑的輻照度。儘管可以通過添加更多的探測器附加元件來計算額外的物理量，如照度、輻射通量等。
然而，在這種特定的案例中——為了避免錯誤消息——有必要稍微調整Parameter Coupling的可程式設計片段，如下所示。其背後的原因是，用於計算焦平面的演算法基於Ray Result Profile引擎，該引擎與大多數計算物理量的探測器外掛程式不相容，因此需要為參數耦合演算法禁用它們。
檔案資訊
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