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受激發射損耗(STED)顯微鏡原理
時間:2025-08-20 15:03來源:未知作者: infotek點擊:次列印
摘要







 
任務說明 


                                                                         



多重光源

                                                                       

 



螺旋相位板                                                                          


 
 
 
 

探測器外掛程式                                                                          


 



參數運行                                                                          




 
       為了實現焦點區域的z-掃描，可以執行參數運行。使用此工具，使用者可以輕鬆改變整個光學系統的單個參數或一組參數。有關詳細資訊，請參閱：

       Usage of the Parameter Run Document 
 
 

非序列建模                                                                          




 
       將通道配置模式切換設置為Manual Configuration後，使用者可以為系統中的每個表面指定為模擬打開哪些通道。運行模擬時，將對活動光路進行初步分析（通過所謂的Light Path Finder）。然後引擎將沿著這些光路將場追蹤到系統中存在的探測器。

       Channel Setting for Non-Sequential Tracing
 


總結 – 組件…                



                                                         


 
系統預覽                                                                           






發射&損耗雷射                                                                         





 
       光在焦點區域中的傳播表明，來自損耗雷射的光會產生環形光斑，其中中心孔徑小於發射雷射的焦斑。由於兩個光束在目標上的螢光過程中競爭，這導致信號雷射的有效光束尺寸更小。



3D STED 輪廓



 


                               
受激發射損耗效應                                                                          


 


 
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