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OPTICAL BENCH REFLET 特別適合做任何材質形狀背雜散 / 正雜散光的特性，在輻射瓣內材料，其光的特性會以光度及色度呈現，藉著輻射瓣的形狀分析可檢驗材質表面之粗糙度、瑕疵結構之排列等，利用不同輻射方向所獲得的數據可推斷材料表面的覆蓋，如油漆、螢光、墨水，因視角不同之色澤變化和薄膜層。最後，背雜光之分光光度儀可分析的物體表面之化學混合物，如氧化層、塵土、污染等。本系統是以模組形式建構，故可很容易依據調整需求，如 integrated flux 做量測、光譜分析或用白光照射。反射光學，亦可人工操作方式進行做點的檢測或快速分析。

REFLET光學介紹

光學包括：

(1)角度儀組合(goniometric assembly)含：

照明組合其光以小角度投射於物體面，光束的方向可調整，從垂直方向到水平方向照射於物體表面之直徑從 3mm 到 10mm 。

馬達帶動的觀測面組合，掃描能力之精確度在0.1。

(2) 以光纖做連接的光源組合可以為：

傳統的鹵素燈源

多光譜光源，此光源忠實及應物體表面材質不受環境、氣候影響。

(3)量測設備：

收集某角度內觀察區的光通量，這些光量可由 (a) “integrated flux” 中光檢測器，或 (2) 利用攝譜儀可在譜色分析 mode 或色度 mode 中操作。

(4) 傳輸時之光模組 ( 可選購 ) 。

基本光組合在傳輸中基於不同條件有不同觀察與量測

(1) 樣品與水平光成90°(即θei90°)

(2) 做部份量測

提供 “ polarizer ” 與 “ analyzer ” 連接器：

前者置於光束，後者置於收集光束處，二者可利用本連接器連接

提供電子架：

做為馬達推動軸控制

使用者介面有以下功能：

標定下列：

樣品名稱與型號
儲存文件名稱
量測日期
2D&3D
掃描角之範圍

可得下列數據：

增益及電位表補償值
光束位置圖

替換或自動得下列：

自動替換量測頻道及相關參數
自動搜集角度
自動搜集量測光強度
儲存不同量測參數資料

RELFET 規格說明

光組合
入射角 ( θ e ) 物件表面光照射面尺寸角孔大小光源光源箱多光譜光源	量測範圍 0 ° (垂直)到90°(水平) 選用：馬達調整固定為 3mm 選用：人工調整範圍 3mm到10mm直徑 0.2°到2° 鹵素燈 150W( 標準 ) 氙氣燈 75W( 選用 ) 波長從 400nm 到 800nm 每波長間距 2nm
觀察組合
馬達化掃描角度解析值位置精密度量測組合 : “integrated flux mode” 藉用分光儀分光範圍分光解析度	θ： [0°到180°] ψ： [0°到90°] 亦可人工調整 0.1° ± 0.1° 高靈敏度光二極體 400-800nm 2nm
馬達化
馬達軸控制器電腦 ( 選用 ) 電腦化步驟量測間距	觀測組合之軸 (0, ψ ) 用 STIL Microstep之微步階控制全自動量測步驟 30秒 30分
傳輸光模組固定垂直方向任意光之方向	利用光纖連接光源手動調整 0 °到 30°
“polarizer + analyzer”連接	快速固定