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REFLET 雜散光量測儀
OPTICAL BENCH REFLET 特別適合做任何材質形狀背雜散 / 正雜散光的特性,在輻射瓣內材料,其光的特性會以亮度及色度呈現,藉著輻射瓣的形狀分析可檢驗材質表面之粗糙度、瑕疵結構之排列等,利用不同輻射方向所獲得的資料可推斷材料表面的覆蓋,如油漆、螢光、墨水,因視角不同之色澤變化和薄膜層。最後,背雜光之分光亮度儀可分析的物體表面之化學混合物,如氧化層、塵土、污染等。本系統是以模組形式建構,故可很容易依據調整需求,如 integrated flux 做量測、光譜分析或用白光照射。反射光學,亦可人工作業方式進行做點的檢測或快速分析。
REFLET光學介紹
光學包括:
(1) 角度儀組合(goniometric assembly) 含:
照明組合其光以小角度投射於物體面,光束的方向可調整,從垂直方向到水準方向照射於物體表面之直徑從 3mm 到 10mm 。
馬達帶動的觀測面組合,掃描能力之精確度在0.1。
(2) 以光纖做連接的光源組合可以為:
常規的鹵素燈源
多光譜光源,此光源忠實及應物體表面材質不受環境、氣候影響。
(3) 量測設備:
收集某角度內觀察區的光通量,這些光量可由 (a) “integrated flux” 中光檢測器,或 (2) 利用攝譜儀可在譜色分析 mode 或色度 mode 中操作 。
(4)傳輸時之光模組 ( 可選購 ) 。
基本光組合在傳輸中基於不同條件有不同觀察與量測
(1) 樣品與水準光成90°(即θei90°)
(2) 做部份量測
提供 “ polarizer ” 與 “ analyzer ” 連接器 :
前者置於光束,後者置於收集光束處,二者可利用本連接器連接
提供電子架 :
做為馬達推動軸控制
使用者介面有以下功能 :
標定下列:
樣品名稱與型號
保存文檔名稱
量測日期
2D&3D
掃描角之範圍
可得下列數據:
增益及電位表補償值
光束位置圖
替換或自動得下列:
自動替換量測頻道及相關參數
自動搜集角度
自動搜集量測光強度
保存不同量測參數資訊
RELFET 規格說明
光組合
入射角 ( θ e )
對象表面光照射面尺寸
角孔大小
光源
光源箱
多光譜光源
量測範圍 0 ° (垂直)到90°(水準)
選用:馬達調整
̶固定為 3mm
選用:人工調整範圍 3mm到10mm直徑
0.2°到2°
鹵素燈 150W( 標準 )
氙氣燈 75W( 選用 )
波長從 400nm 到 800nm 每波長間距 2nm
觀察組合
馬達化掃描
角度解析值
位置精密度
量測組合 :
“integrated flux mode”
藉用分光儀
分光範圍
分光解析度
θ: [0°到180°]
ψ: [0°到90°]
亦可人工調整
0.1°
± 0.1°
高靈敏度光二極體
400-800nm
2nm
馬達化
馬達軸
控制器
電腦 ( 選用 )
電腦化步驟
量測間距
觀測組合之軸 (0, ψ )
用 STIL Microstep之微步階控制
全自動量測步驟
30秒
30分
傳輸光模組
固定垂直方向
任意光之方向
利用光纖連接光源
手動調整
0 °到 30°
“polarizer + analyzer”連接
快速固定
HASO II技術指標
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