訊技科技首頁 最新公告: 繁體中文|English|全站搜索
欄目列表
NEWSLETTER
最新發佈

如何設置掃描光源

通過偏振光干涉生成空

圓錐折射作為偏振計量

用於X射線聚焦的複合折

通過法布裡珀羅標準具

iVirtualLab Unity光學薄膜設

用於X射線成像的單光柵

共聚焦掃描顯微鏡的工

受激發射損耗(STED)顯微

螢光顯微鏡的彩色效應

光柵內部光場分析器
時間:2023-06-13 17:20來源:未知作者: infotek點擊:列印
摘要
 






尋找元件內部光場分析器: FMM
       


 
 
 
  
評估模式







評估區域



 


光柵類型




 
 



光柵表面的採樣



 
 
 
 
光柵表面的採樣




 


檔案資訊








研究


       SWF.0018, Field Inside Analyzer, Field Inside, Inside Component, Inside,
       Internal, Internal Field, Analyzer, Field in Component, Grating, Grating Analyzer,
       FMM, Fourier Modal Method, RCWA, metallic, dielectric



短摘要
 

       演示了一種分析計算模組,它允許計算通過光柵元件傳播的光場。


 
圖片演示

 



關於我們
公司介绍
專家團隊
人才招聘
訊技風采
員工專區
服務項目
產品銷售
課程中心
專業書籍
項目開發
技術諮詢
聯繫方式
地址:新北市永和區中正路746號9樓之5
電話:+886-2-3233-2748    傳真:+886-2-3322-9865
課程:course@infotek.com.tw
業務:sales@infotek.com.tw
技術:support@infotek.com.tw
官方微信
掃一掃,關注訊技光電的微信訂閱號!
Copyright © 2014-2025 訊技科技股份有限公司, All Rights Reserved.