受激發射損耗（STED）顯微鏡 - 訊技科技股份有限公司

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受激發射損耗（STED）顯微鏡

時間:2023-07-27 14:42來源:未知作者: infotek點擊:次列印

超解析度顯微鏡——光學系統，可以達到超過眾所周知的阿貝繞射極限——已經有了廣泛的用途，因為獲得最大可能的解析度是該領域的關鍵目標之一。實現這一目標的一種方法是受激發射損耗（STED）的概念。在這裡，螢光樣品由兩個雷射照射，其中一個由相位板塑造成甜甜圈模式。通過化學過程，樣品重新發出的光將只來自甜甜圈模式的中心點，這可以配置為比經典的焦點小得多，從而提高了圖像的解析度。

光學建模和設計軟體VirtualLab Fusion在一個單一平臺上集成了完全可交互的不同模擬演算法，為光學工程師提供了所有必要的工具來充分研究這類系統，包括所有相關的影響。

在下面的文檔連結您會找到一個STED顯微鏡的演示以及詳細查看我們的複合光源，對於這個例子有特別重要的特性，因為它提供了充分的自由度來定義系統中的多個發射源並根據需要為了隔離可能產生的不同的影響而獨立控制每個發射源的開關。

受激發射損耗（STED）顯微鏡工作原理

在這個案例中，演示了STED顯微鏡的工作原理。兩束雷射光束傳播到焦平面，其中飽和耗盡效應近似為一個軟孔徑。

基於VirtualLab Fusion的複合光源模擬

本文檔說明了如何在VirtualLab Fusion中使用複合光源。

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