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受激發射損耗(STED)顯微鏡原理
時間:2023-08-07 14:26來源:未知作者: infotek點擊:次列印
摘要

 
               
                                                          
       受激發射損耗(STED)顯微鏡描述了一種常用的技術，以實現在生物應用的超解析度。在這種方法中，兩束雷射—一束正常，一束轉變成甜甜圈模式—被疊加到螢光樣品上。通過使用螢光過程的發射和損耗以及利用由此產生的飽和效應，與通常的顯微鏡技術(例如，寬視場顯微鏡)相比，後反射光顯示出更高的解析度。在本文檔中，介紹了這種設備的基本設置。為了模擬飽和效應，在焦點區域採用等效孔徑。
 

 
任務說明

 
 



多重光源                                                                          


 



螺旋相位板
 

                       
                                         



探測器外掛程式                                                                          


 



參數運行 
 

                                                                            



非時序建模                                                                          

                                                                               
 



總結 – 組件… 


 
 



系統觀感                                                                          



 
 



發射&損耗雷射
 


 
 

 
       光在焦點區域中的傳播表明，來自損耗雷射的光會產生環形光斑，其中中心孔徑小於發射雷射的焦斑。由於兩個光束在目標上的螢光過程中競爭，這導致信號雷射的有效光束尺寸更小。



 
3D STED 輪廓                                                                         

 
 



受激發射損耗效應
 


                                                                       



VirtualLab Fusion 技術                                                                         

 

 



檔案資訊  

 

 


延伸閱讀


  Simulation of Multiple Light Source in VLF

  Focusing of Gaussian-Laguerre Wave for STED Microscopy




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