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FRED在雜散光分析中的應用(3)
時間:2010-12-23 18:44來源:訊技光電作者: 技術部點擊:列印

紅外輻射計測量絕對輻射而不是一個相對輻射,所以任何背景輻射都是不可接受的。 在這樣一個設備中,冷卻整個設備來降低溫度以消除因為自身散射引起的雜散光是必要的。


圖4—該圖演示這樣一個簡單的問題,一個溫熱的茶壺,其表面有著不同的發射率和溫度分布。茶壺通過一個單透鏡成像,探測器放置在透鏡後面(看不見)。許多紅外系統中都發現機械結構自身輻射到探測器的問題。而解決的方法不是移除自輻射源就是對這些輻射加以遮擋。

以上幾種現象的組合

以上現象的組合也會發生,並且可能很重要。 比如, 自輻射光線可能繼而從光學器件上散射進入視場裏面。由孔徑衍射的光線也可能從光學器件上面散射進入視場內。

2.FRED 怎樣呈現散射光?

有幾種方法可以跟蹤散射光。第一種方法是制造一個光源,再追跡通過光學系統的光線。第二種方法是通過系統從探測器的進行反向光線追跡。能夠通過使用任何3D光線追跡軟件程序來顯示雜散光光路是相當重要的。光學工程師利用FRED的軟件來顯示雜散光發生的位置。反射光線以及折射光線僅僅是問題的一部分,散射光也是一個問題。

 

3、FRED怎樣產生幾何界面?

系統的幾何結構可以直接在FRED 中通過運用簡單圖形界面來生成。也可以輸入由機械軟件設計的IGES 或者STEP 格式文件,和光學設計程序設計的文件,或者從ASAP 輸出文檔中轉換過來。FRED程序有許多選項用於生成表面,包括標準平面,二次曲線,柱面,橢圓體, 雙曲線,環形,多項式曲面,澤尼克,非均勻有理B樣條, 網狀,旋轉曲線,壓邊曲線,復合曲線,凹線和用戶自定義表面。圖1和圖2中所示的為FRED繪制的那些表面之一。

 

因為FRED 有一個多文檔用戶界面,所以可以在文檔間進行元件的相互剪切,復制以及粘貼。 實體在理論上可能被設置為各層組裝體,組件和元件等等。它符合系統的物理層結構;任何一個物體都可以在任意的坐標系統中定義。 任何表面都可能被任何隱式曲面或者任何孔徑收集曲線所整理(切開),以下是詳細說明。

4 、FRED 怎樣追蹤光路?

FRED 有能力去完成一次高級的光線追跡。 這種光線追跡可以清晰地追蹤系統中所有光線的所有路徑。 圖5顯示了在圖1中的兩個雙膠合透鏡的光線路徑的列表。 光線歷史報表是一個對所有光線的完整報告,記載了有多少光線以這條光路發射,他們怎樣到達最終的實體(在這個事例中是焦平面)以及他們穿過了多少表面(事件計數)。 也可以取任一條光線追跡的光路然後將其復制到用戶定義光路列表 (選擇光路, 將鼠標移至光路然後選擇一個選項將這條光路復制到用戶定義光路列表)。 這條光路將立刻在高級光線追跡中呈現一個可選光路作為一個可用的光線追跡方法。還可以僅對這條光線繪制彌散斑圖或點擴散函數圖。


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