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FRED在雜散光分析中的應用(6)
時間:2010-12-23 18:44來源:訊技光電作者: 技術部點擊:列印

圖10—雙膠合透鏡系統的對數縮放輻照度圖


圖11—對數縮放輻照圖的2D 畫面

7、FRED 怎樣定義散射表面?

在“散射”文件夾中包括了默認和用戶自己輸入的散射模型,這些模型都可以應用於FRED的任何表面上。根據入射光角度以及局部曲面法線的方向, 每個模型計算出合適的三維雙向散射分布函數(BSDF)。 BSDF的另一種定義方式是雙向反射分布函數(BRDF)以及雙向透射分布函數(BTDF)。

FRED自帶有三個默認的散射模型:: 黑朗伯(4%黑漫反射率),白朗伯(96% 白漫反射率)以及Harvey-Shack(拋光面)。另外,以參量描述的散射模型在FRED 中也是可用的:黑漆(熱成像系統), ABg, 表面顆粒(Mie) 和 Phong.一個表面至少可以應用一種類型的散射模型。圖12顯示創建一個用戶自定義散射模型的對話框列表, 解釋了FRED最新的散射定義,是一個支持腳本的BSDF 函數,用戶可以通過方程來定義的一種散射模型。 允許或者停止反射和傳輸散射組分最近應用於表面的每個光線追蹤控制。每個散射表面必須有至少一個散射方向,通過運用菜單欄選項工具自動設置該方向,或采用散射重要性抽樣,或可以通過“Surface”對話框的“Scatter”欄手動定義。每個散射方向都可以應用於設置在表面的每個散射模型。圖13顯示的是為表面設置多重重點采樣的對話框。通過把目標定義在特定方向上,比如鏡像或對著特定的實體,閉合曲線, 空間中的一點或者橢圓柱體來實現多重重點采樣。


圖12—散射對話框顯示有多種方法來定義散射


圖13—應用於一個特定表面上的重點采樣定義選項。如圖中所示,多重散射特性和多個重點采樣目標可以一起運用。註意到該圖中, 該面同時定義了MIE散射特性和Harvey Shack 拋光面散射,並且還定義兩個重點采樣目標, 一個指向表面,一個朝向焦平面。

8、FRED怎樣追跡散射光路?

完成一次高級的光線追跡以後,只要選擇了保存光線歷史選項,FRED就會生成一份雜散光報告。這樣就有可能從工具菜單中得到一份詳細的雜散光光線報告,該報告將指出鬼像以及散射光路怎樣到達任何一個表面。 圖14所示的高級光線追跡對話框中,可以看到該對話框有設置/運用光線歷史檔案的選項並勾上了“確定光線路徑”的選項。 圖15顯示的是一個簡單的卡塞格林望遠鏡系統的雜散光光線報告,該報告詳細說明了雜散光是怎樣以離軸5度的視場從光源射入的望遠鏡的 


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