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用Fabry-Pérot標準具檢測鈉D線

時間:2022-11-29 16:03來源:未知作者: infotek點擊:次列印

摘要


Fabry-Pérot標準具廣泛應用於雷射共振器和光譜學中，用於敏感波長的濾波。通常，它們由兩個高反射(HR)塗層表面和之間的空氣(或玻璃)組成。在這個例子中，建立了一個以矽為間層的標準具光學測量系統，以測量鈉D線。利用非序列場追跡技術，充分考慮了多元反射對條紋對比度的影響，研究了塗層的反射率對條紋對比度的影響。



建模任務

具有高反射(HR)塗層的標準具

對於塗層的標準具表面，我們使用分層介質元件，因為它為x、y不變圖層堆疊提供了快速和嚴格的解決方案。塗層本身是由交替的鈦和二氧化矽薄膜定義的，其中反射率隨著反覆運算次數的增加而增加。關於分層媒體元件的更多資訊，請參考:

圖層矩陣解算器

分層介質元件採用圖層矩陣電磁場求解器。該求解器工作在空間頻域(k-域)。它包含
1. 一個特徵模求解器為每個均勻層和
2. 一個s矩陣，用於在所有介面處匹配邊界條件。

本征模求解器計算各層均勻介質k域的場解。S-矩陣演算法通過遞迴方式匹配邊界條件計算整個圖層系統的回應。

這種方法以其無條件的數值穩定性而聞名，因為與傳統的傳遞矩陣不同，它避免了計算步驟中的指數增長函數。

更多的信息：

總結-組件…

兩條光譜線的視覺化

精細vs.塗層反射率

精細度vs.塗層反射率

內部共振增強


整個傳輸值將在共振波長的倍數處達到峰值。這些曲線的確切形狀也取決於標準具表面的反射率。

請注意，在我們的示例中，使用的是真實的塗料。通過設計，具有更大反射率的塗層利用更多的圖層堆疊，因此更厚，這有效地改變了標準具曲面的距離。這導致了共振峰的輕微偏移。

VirtualLab Fusion技術

檔案資訊

延伸閱讀

- Modeling of Etalon with Planar or Curved Surfaces

- Coherence Measurement Using Michelson Interferometer and Fourier Transform Spectroscopy

- Stratified Media Component

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