訊技科技首頁 最新公告: 繁體中文|English|全站搜索
欄目列表
FRED
virtualLab
Macleod
OptiWave
GLAD
OCAD
Litestar 4D
EastWave
JCMSuite
LASCAD
最新發佈

用於干涉儀應用的實際

光波導系統的均勻性探

基於干涉的光學測試系

用於微結構晶片檢測的

用於光學檢測的斐索干

橢圓偏振分析器

F-Theta掃描透鏡的性能評

基於橢圓偏振法的光學

SiO2膜層的可變角橢圓偏

傍軸假設工具

用於干涉儀應用的實際分束器
時間:2023-05-18 15:26來源:未知作者: infotek點擊:列印
       干涉儀是在光學計量領域的許多應用的關鍵技術。廣泛應用於表面輪廓、缺陷、機械形變或熱形變等高精度測量。大多數干涉儀系統強烈依賴分束器來分離入射光束。要詳細研究這些元件可能對光產生的所有不同物理影響,就需要一種可以類比真實光束分束器元件的建模方法。
 

       考慮到這一點,我們分享了兩個案例,其中包含了這種分束器的最常見設計。在第一篇文章中,我們看了一個基於受抑全內反射(FTIR)的立方體分束器,並演示了間隙如何影響透射和反射效率。在第二個案例中,我們研究了由實際分束器與理想分束器所產生的相移。


 
立方體光束整形器上的受抑全內反射(FTIR)








Mach-Zehnder干涉儀中的互補干涉圖







 
       在VirtualLab Fusion中建立了具有同調雷射光源的Mach-Zehnder干涉儀,並採用非序列場追跡技術對干涉儀進行了分析。研究了理想分束器和棱鏡分束器的不同行為,並演示了相對相移引起的互補干涉圖樣。

關於我們
公司介绍
專家團隊
人才招聘
訊技風采
員工專區
服務項目
產品銷售
課程中心
專業書籍
項目開發
技術諮詢
聯繫方式
地址:新北市永和區中正路746號9樓之5
電話:+886-2-3233-2748    傳真:+886-2-3322-9865
課程:course@infotek.com.tw
業務:sales@infotek.com.tw
技術:support@infotek.com.tw
官方微信
掃一掃,關注訊技光電的微信訂閱號!
Copyright © 2014-2016 訊技科技股份有限公司, All Rights Reserved.